封装测试 sem【相关词_ sem测试】

缺陷检查Defect DR-SEM(DefectReview Scanning Electron Microscopy)用来检测出晶圆上是否有瑕疵,主要是微尘粒子、刮痕、残留物等问题。此外,对 IC检测晶圆封装测试工序

BGA芯片级封装老化测试插座的设计研究(3\/4)

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半导体科技.先进封装与测试杂志 - TSV制程技术

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