4200半导体测试仪【相关词_ 半导体测试仪】

型号:4200-SCS/F 技术指标: 源测量单元:4个源测量单元 I-V测量最大电流: 100mA。 I-V测量最小分辨率:最小分辨率为0.1fA。 I-V测量最大电压:200V。 C-V测量:扫频范围1KHz

半导体测试仪-山东大学晶体材料研究所

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